Поиск:
Начало | Пред. | 894 895 896 897 898 | След. | Конец
| Тип | Название | Номер | Дата введения | |
|---|---|---|---|---|
| 17901. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости. | 18986.4-73 | 01.01.1975 |
| 17902. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения. | 18986.5-73 | 01.01.1975 |
| 17903. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления. | 18986.6-73 | 01.01.1975 |
| 17904. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда. | 18986.7-73 | 01.01.1975 |
| 17905. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления | 18986.8-73 | 01.01.1975 |
| 17906. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения. | 18986.9-73 | 01.01.1975 |
| 17907. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности | 18986.10-74 | 01.07.1976 |
| 17908. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь. | 18986.11-84 | 01.07.1985 |
| 17909. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода. | 18986.12-74 | 01.07.1976 |
| 17910. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора. | 18986.13-74 | 01.07.1976 |
| 17911. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивления. | 18986.14-85 | 01.07.1986 |
| 17912. | ГОСТ | Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения стабилизации. | 18986.15-75 | 01.01.1977 |
| 17913. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока. | 18986.16-72 | 01.01.1974 |
| 17914. | ГОСТ | Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации. | 18986.17-73 | 01.07.1974 |
| 17915. | ГОСТ | Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости. | 18986.18-73 | 01.07.1974 |
| 17916. | ГОСТ | Варикапы. Методы измерения добротности. | 18986.19-73 | 01.01.1975 |
| 17917. | ГОСТ | Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим. | 18986.20-77 | 01.01.1979 |
| 17918. | ГОСТ | Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации. | 18986.21-78 | 01.01.1980 |
| 17919. | ГОСТ | Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления. | 18986.22-78 | 01.01.1980 |
| 17920. | ГОСТ | Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума. | 18986.23-80 | 01.01.1982 |
Начало | Пред. | 894 895 896 897 898 | След. | Конец