Поиск:
Начало | Пред. | 556 557 558 559 560 | След. | Конец
| Тип | Название | Номер | Дата введения | |
|---|---|---|---|---|
| 11141. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления. | 18986.6-73 | 01.01.1975 |
| 11142. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда. | 18986.7-73 | 01.01.1975 |
| 11143. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления | 18986.8-73 | 01.01.1975 |
| 11144. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения. | 18986.9-73 | 01.01.1975 |
| 11145. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности | 18986.10-74 | 01.07.1976 |
| 11146. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь. | 18986.11-84 | 01.07.1985 |
| 11147. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода. | 18986.12-74 | 01.07.1976 |
| 11148. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора. | 18986.13-74 | 01.07.1976 |
| 11149. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивления. | 18986.14-85 | 01.07.1986 |
| 11150. | ГОСТ | Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения стабилизации. | 18986.15-75 | 01.01.1977 |
| 11151. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока. | 18986.16-72 | 01.01.1974 |
| 11152. | ГОСТ | Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации. | 18986.17-73 | 01.07.1974 |
| 11153. | ГОСТ | Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости. | 18986.18-73 | 01.07.1974 |
| 11154. | ГОСТ | Варикапы. Методы измерения добротности. | 18986.19-73 | 01.01.1975 |
| 11155. | ГОСТ | Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим. | 18986.20-77 | 01.01.1979 |
| 11156. | ГОСТ | Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации. | 18986.21-78 | 01.01.1980 |
| 11157. | ГОСТ | Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления. | 18986.22-78 | 01.01.1980 |
| 11158. | ГОСТ | Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума. | 18986.23-80 | 01.01.1982 |
| 11159. | ГОСТ | Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения. | 18986.24-83 | 01.07.1984 |
| 11160. | ГОСТ | Лифты судовые. Общие технические требования. | 18988-90 | 01.07.1991 |
Начало | Пред. | 556 557 558 559 560 | След. | Конец